在科研與工業(yè)生產(chǎn)中，對微觀世界的精準(zhǔn)探索離不開得力的測量工具。布魯克 ContourGT - K 白光干涉光學(xué)輪廓儀，以其設(shè)計與實用性能，為各領(lǐng)域提供了可靠的測量支持。布魯克白光干涉輪廓儀 微觀世界的測量伙伴
產(chǎn)品細(xì)節(jié)：設(shè)計精巧，操作簡便
ContourGT - K 外觀緊湊，易于安置在各類實驗臺或生產(chǎn)線上。其操作界面友好，按鍵布局合理，搭配清晰的顯示屏，操作人員能迅速上手，輕松完成參數(shù)設(shè)置。樣品臺可靈活調(diào)節(jié)，能穩(wěn)固承載不同形狀與尺寸的樣品，從微小的電子元件到較大的機械部件，都能確保測量位置精準(zhǔn)。設(shè)備的光學(xué)鏡頭保護良好，減少了灰塵、碰撞等外界因素干擾，保障測量的穩(wěn)定性。
產(chǎn)品性能：技術(shù)融合，穩(wěn)定可靠
該輪廓儀融合*的白光干涉技術(shù)與精密光學(xué)系統(tǒng)，通過分析光的干涉現(xiàn)象，精準(zhǔn)還原樣品表面三維形貌。測量過程中，設(shè)備運行平穩(wěn)，數(shù)據(jù)采集連貫，測量結(jié)果一致性佳。它能適應(yīng)多種表面特性，無論是光滑的光學(xué)鏡片，還是粗糙的金屬加工表面，都能獲取有效的測量數(shù)據(jù)。測量范圍靈活可變，既適用于小范圍精細(xì)結(jié)構(gòu)的測量，也能滿足大面積區(qū)域的快速掃描需求。
用材講究：品質(zhì)選材，經(jīng)久耐用
布魯克在 ContourGT - K 的選材上十分用心。核心光學(xué)部件采用高透光率、低色散的光學(xué)玻璃，確保光線傳輸穩(wěn)定，成像清晰準(zhǔn)確。機械傳動部分選用耐磨、高強度的合金材料，長期高頻使用下，依然能保持出色的運動精度，延長設(shè)備使用壽命。設(shè)備外殼堅固且具備一定的抗腐蝕能力，有效保護內(nèi)部精密部件，適應(yīng)多樣的工作環(huán)境。
參數(shù)詳情
廣泛用途
在半導(dǎo)體制造中，可精確測量芯片表面的粗糙度、線路寬度與深度，助力提升芯片性能與良品率。在光學(xué)元件生產(chǎn)里，能對透鏡、棱鏡的表面面形誤差進行檢測，保障光學(xué)元件的成像質(zhì)量。材料科學(xué)研究時，用于分析薄膜厚度、表面微觀結(jié)構(gòu)，為新材料研發(fā)提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)。此外，在微機電系統(tǒng)（MEMS）制造、醫(yī)療器械生產(chǎn)等領(lǐng)域，也能發(fā)揮重要的質(zhì)量檢測作用。
使用說明
使用前，仔細(xì)檢查設(shè)備外觀有無損壞，各部件連接是否牢固。將設(shè)備放置在平穩(wěn)、無振動的工作臺上，確保工作環(huán)境溫度、濕度適宜，避免環(huán)境因素影響測量精度。連接好電源及相關(guān)配件后，按照說明書進行設(shè)備初始化設(shè)置。安裝樣品時，依據(jù)樣品特性選擇合適的固定方式，確保樣品穩(wěn)固且處于正確測量位置。設(shè)置測量參數(shù)時，根據(jù)樣品類型、測量目的謹(jǐn)慎選擇測量范圍、分辨率、掃描模式等。測量過程中，密切關(guān)注設(shè)備運行狀態(tài)，若發(fā)現(xiàn)圖像異常、測量數(shù)據(jù)波動過大等情況，立即停止測量，排查故障原因，如檢查光路是否有遮擋、樣品是否發(fā)生位移等。測量完成后，及時關(guān)閉設(shè)備電源，清理樣品臺，定期對設(shè)備進行全面清潔與維護，包括對光學(xué)部件進行清潔、對機械傳動部件進行潤滑等，確保設(shè)備始終處于良好工作狀態(tài)。憑借出色的設(shè)計、可靠的性能與廣泛的適用性，布魯克 ContourGT - K 白光干涉光學(xué)輪廓儀成為微觀測量領(lǐng)域的得力助手，助力各行業(yè)邁向精密制造與科研新高度。
布魯克白光干涉輪廓儀 微觀世界的測量伙伴
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