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澤攸掃描電鏡:焊接質量檢測的實用工具

產品簡介

澤攸掃描電鏡:焊接質量檢測的實用工具
在焊接技術應用廣泛的制造業(yè)中,焊接質量的把控直接關系到產品的安全性和可靠性。傳統(tǒng)檢測手段在分析焊接區(qū)域微觀細節(jié)時存在一定局限性,而ZEM20臺式掃描電鏡的引入,為焊接質量檢測提供了新的技術支持。

產品型號:ZEM20
更新時間:2025-09-17
廠商性質:代理商
訪問量:10
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澤攸掃描電鏡:焊接質量檢測的實用工具

在焊接技術應用廣泛的制造業(yè)中,焊接質量的把控直接關系到產品的安全性和可靠性。傳統(tǒng)檢測手段在分析焊接區(qū)域微觀細節(jié)時存在一定局限性,而ZEM20臺式掃描電鏡的引入,為焊接質量檢測提供了新的技術支持。

ZEM20臺式掃描電鏡具備清晰的成像能力,能夠呈現焊接區(qū)域的微觀形貌。通過觀察焊縫的晶粒分布、熔合線特征以及可能存在的氣孔、夾渣等缺陷,技術人員可獲取直觀的微觀結構信息,為分析焊接工藝參數的合理性提供依據。這種可視化的檢測方式,有助于在研發(fā)階段優(yōu)化焊接工藝,或在生產中及時定位質量問題。

ZEM20臺式掃描電鏡具備高分辨率成像能力,分辨率可達4nm@20kV,放大倍數最高可達36萬倍,適用于高精度微觀結構分析。其操作便捷,支持一鍵完成樣品觀察與圖像分析,提升檢測效率。設備適用于材料科學、電子制造、生物醫(yī)學、工業(yè)質檢及科研教育等領域,具有高效便捷、靈活拓展和廣泛適配的優(yōu)勢。

ZEM20臺式掃描電子顯微鏡是澤攸科技ZEM系列中的一款高性價比臺式掃描電子顯微鏡,采用多項自主創(chuàng)新技術,如真空分隔技術,通過電子槍與樣品倉的真空分離設計,顯著縮短換樣時間,同時支持高真空與低真空模式。設備具備超大樣品倉和高清攝像頭,支持原位實驗擴展,滿足科研的多樣化需求。

ZEM20的操作界面簡潔,操作便捷,支持一鍵完成樣品觀察與圖像分析。其成像速度快,抽真空時間小于30秒,光學導航與艙內攝像頭支持快速找樣,樣品艙實時觀察,軟件支持自動亮度對比度、自動聚焦、自動消像散等功能,提升操作效率。設備具備高分辨率成像能力,分辨率可達4nm@20kV,放大倍數最高可達36萬倍,適用于高精度微觀結構分析。

ZEM20適用于材料科學、電子制造、生物醫(yī)學、工業(yè)質檢及科研教育等領域,具有高效便捷、靈活拓展和廣泛適配的優(yōu)勢。其高性價比和良好的性能,使其成為高校、研究機構和企業(yè)的重要選擇。


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