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三維光學(xué)輪廓儀
布魯克
布魯克輪廓儀:材料表面形貌分析工具 布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-500是一款用于材料表面形貌分析的測(cè)量工具,適用于工業(yè)檢測(cè)和實(shí)驗(yàn)室研究。該產(chǎn)品采用非接觸式光學(xué)干涉技術(shù),能夠?qū)Χ喾N材料表面進(jìn)行三維形貌測(cè)量,包括金屬、陶瓷、聚合物和薄膜等。
布魯克ContourX-500高效測(cè)量的工作伙伴? 將*的測(cè)量技術(shù)轉(zhuǎn)化為簡(jiǎn)單可靠的操作體驗(yàn),是儀器設(shè)計(jì)的重要目標(biāo)。布魯克ContourX-500三維光學(xué)輪廓儀不僅在核心性能上滿足要求,更在人性化設(shè)計(jì)、軟件交互和長(zhǎng)期使用方面進(jìn)行了考量,旨在成為用戶日常工作中高效的工作伙伴。
布魯克ContourX-500應(yīng)對(duì)多樣化的測(cè)量挑戰(zhàn)? 一款測(cè)量?jī)x器能否應(yīng)對(duì)實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)線上多樣化的樣品,是其價(jià)值的重要體現(xiàn)。布魯克ContourX-500三維光學(xué)輪廓儀憑借其技術(shù)特點(diǎn)和可配置性,展現(xiàn)出處理多種測(cè)量挑戰(zhàn)的能力,適用于從研發(fā)到質(zhì)量控制的多個(gè)環(huán)節(jié)。
布魯克ContourX-500探索微觀世界三維細(xì)節(jié)? 在科研與工業(yè)質(zhì)檢領(lǐng)域,對(duì)樣品表面進(jìn)行非接觸、高細(xì)節(jié)的三維形貌測(cè)量是一項(xiàng)常見需求。布魯克公司的ContourX-500三維光學(xué)輪廓儀,正是為滿足這一需求而設(shè)計(jì)的測(cè)量工具。它通過*的光學(xué)技術(shù),為用戶提供樣品表面的三維數(shù)據(jù)圖,幫助用戶洞察微觀世界的豐富信息。
布魯克ContourX-200多領(lǐng)域表面分析助手 布魯克ContourX-200三維光學(xué)輪廓儀的應(yīng)用范圍,跨越了從實(shí)驗(yàn)室前沿研究到工業(yè)生產(chǎn)線的多個(gè)環(huán)節(jié)。其靈活性和適應(yīng)性,使其成為多種行業(yè)進(jìn)行表面質(zhì)量監(jiān)控和材料特性研究的工具之一。
布魯克ContourX-200細(xì)膩刻畫表面微觀世界 布魯克ContourX-200三維光學(xué)輪廓儀的魅力,在于它將復(fù)雜的光學(xué)測(cè)量技術(shù)集成于一個(gè)易于操作的平臺(tái)之中。其核心技術(shù)原理是光學(xué)干涉,通過捕捉光線從樣品表面反射后產(chǎn)生的干涉信號(hào),來(lái)精確還原表面的三維形貌信息。
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